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Analisi di Fluorescenza a Raggi X (XRF) ai LNF

e-mail: astrik.gorghinian@lnf.infn.it

Bandiera inglese2 (16K)

TIPOLOGIA D'INDAGINE
NON DISTRUTTIVA: l'oggetto NON subisce alterazioni durante l'analisi

CARATTERISTICA
si identificano gli elementi chimici (limiti di rivelabilità : Z > 13 ; concentrazioni > 30 ppm) presenti in uno strato superficiale del campione (metalli: frazione di qualche mm - legno: qualche cm) di area pari alla dimensione del fascio di radiazione incidente, in tempi dell'ordine di qualche centinaio di secondi.
Si possono esegure analisi qualitative, semiquantitative e quantitative.

TIPI DI CAMPIONI ANALIZZATI
Liquidi, Polveri, Solidi, Pellicole

APPLICAZIONI
ambito archeologico, artistico (esami su Dipinti, Manufatti metallici, Manufatti ceramici, Smalti), geologico, industriale, .....


Spettrometro Unisantis XMF 104

XMF_104 (13K)

Apparato strumentale composto da:

Caratteristica principale:

L'apparato è dotato di un sistema di lenti policapillari (principio della riflessione totale multipla) di Kumakhov

Vantaggi:
  • focalizza spot di circa 100 micron
  • agisce da filtro passa banda basso a causa della sua finestra di trasmissione migliorando così il limite di rivelabilità minima e la risoluzione spaziale
  • ottiene un micro fascio di alta intensità con piccolo angolo di divergenza
Focalizzazione dei RX per mezzo dei policapillari

Policapillare (15K)
Geometria della misura XRF (in riflessione)

Geom_XRF (42K)
Dinamica del processo:
  • Un fascio di RX investe il campione
  • Trasferisce una parte della sua energia agli elettroni delle orbite più interne producendo l'eventuale espulsione di un elettrone (effetto fotoelettrico)
  • Nell'atomo eccitato si inducono una o più transizioni elettroniche con conseguente emissione di RX caratteristici
  • Lo spettro acqisisce una serie di righe di emissione d'intensità legate all'abbondanza del relativo elemento presente nel campione investito